半导体电学参数测试设备iv+cv曲线扫描仪
发布时间：2026-02-25 00:00
浏览：303 次
区域：西安
类别：电气网
面议
信息编号：NO.00104305
举报虚假信息
半导体电学参数测试设备iv+cv曲线扫描仪特点：
30μV-1200V,1pA-100A宽量程测试能力；
测量精度高,全量程下可达0.03%精度；
内置标准器件测试程序，直接调用测试简便；
自动实时参数提取，数据绘图、分析函数；
在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布
30μV-1200V,1pA-100A宽量程测试能力；
测量精度高,全量程下可达0.03%精度；
内置标准器件测试程序，直接调用测试简便；
自动实时参数提取，数据绘图、分析函数；
在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布
温馨提示：联系时请说明是在印购网看到的。请注意甄别信息真实性，涉及资金往来请谨慎，谨防上当受骗。
信息咨询 / 留言（0）
发布者信息